CS2676CHSI系列程控絕緣電阻測(cè)試儀

測(cè)試模式

IR

IR

輸出電壓

（DC）

范圍

0.100kV-5.000kV

精度

±(1%+0.2%滿量程)

分辨率

1V

最大上限設(shè)定值

50000MΩ

最大下限設(shè)定值

49999MΩ

最小下限設(shè)定值

5MΩ

電壓上升時(shí)間

0.3s～999.9s 0=電壓上升時(shí)間關(guān)

測(cè)試時(shí)間

0.3s～999.9s 0=連續(xù)測(cè)試

間隔時(shí)間

0.0s～999.9s 0=間隔時(shí)間關(guān)

自動(dòng)切換檔位

可設(shè)置為開、關(guān)

放電時(shí)間

≤200ms

電 阻 表

測(cè)量范圍

5MΩ～50000MΩ

分辨率

5MΩ～9.999MΩ：0.001MΩ ，10MΩ～99.99MΩ：0.01MΩ，

100MΩ～999.9MΩ：0.1MΩ ，1000MΩ～9999MΩ：1MΩ，

10.00GΩ～50.00GΩ：10MΩ

誤差范圍

0.100kV～0.300kV：5.000MΩ～999.9MΩ ±（5%+2 個(gè)字），

0.301kV～0.500kV：5.000MΩ～999.9MΩ ±（5%+2 個(gè)字），

1.000GΩ～5.00GΩ ±（10%+2 個(gè)字），

0.501kV～1.500kV：5.000MΩ～999.9MΩ ±（5%+2 個(gè)字），

1.000GΩ～9999MΩ ±（10%+2 個(gè)字），

10.00GΩ～50.00GΩ ±（15%+2 個(gè)字），

1.501kV～5.000kV：5.000MΩ～999.9MΩ ±（5%+2 個(gè)字），

1.000GΩ～50.00GΩ ±（10%+2 個(gè)字）

計(jì) 時(shí) 器

范圍

0～999.9s

分辨率

0.1s

精度

±（0.1%+50ms）