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產品型號：LS-VCS-NF
更新時間：2024-12-28簡要描述：激光近場測量系統專門針對VCSEL近場測試研發，在特定顯微區域實現對VCSEL芯片發光效果、能量分布、光斑尺寸，以及穩定性進行測試。可測量發光點數統計、壞點/異常點標記，各發光點光功率一致性統計、光束束腰直徑、近場發散角、光束質量因子M²。
激光近場測量系統
型號：LS-VCS-NF
隨著物聯網、AI、5G技術的發展，VCSEL（VerticalCavitySurfaceEmittingLaser，垂直共振腔表面放射激光）技術作為3D成像和傳感系統的核心技術，目前在人臉識別、3D感測、汽車自動駕駛、手勢偵測和VR(虛擬現實)/AR(增強現實)/MR(混合現實等應用領域越來越受到關注。可以為客戶提供VCSEL-3DSENSING/TOF檢測解決方案：LIV光譜/功率積分測試、NF近場特性測試、FF遠場特性測試、BRDF/BTDF光學材料AR/VR特性測試、VCSEL專用積分球。以實現客戶對VCSEL/MiniLED/MicroLED單體、模組、及晶圓芯片的能量分布和均勻性測量、光譜波長及功率測量、近場遠場測量等各種定制化應用需求。
專門針對VCSEL近場測試研發，在特定顯微區域實現對VCSEL芯片發光效果、能量分布、光斑尺寸，以及穩定性進行測試。可測量發光點數統計、壞點/異常點標記，各發光點光功率一致性統計、光束束腰直徑、近場發散角、光束質量因子M2。
技術優勢特點：
l 光譜范圍：400-1000nm/900-1700nm
l 采用917萬像素相機進行數據采集，采集數據分辨率高
l 光路配置可根據光強功率旋轉濾光輪，選擇衰減片：OD0.3-OD4，共6種濾光片
l 可測量微小束腰的激光：10倍物鏡≥10μm，20倍物鏡≥5μm
l 近場光路系統（直接耦合成像鏡頭和光路模塊，一體化設計）
l 實時監測光點數統計、壞點/異常點標記，各發光點光功率一致性統計、光束束腰直徑、近場發散角、光束質量因子M2
激光近場測量系統主要技術指標：
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