LS-VCS-NF激光近場測量系統 激光近場測量系統專門針對VCSEL近場測試研發,在特定顯微區域實現對VCSEL芯片發光效果、能量分布、光斑尺寸,以及穩定性進行測試。可測量發光點數統計、壞點/異常點標記,各發光點光功率一致性統計、光束束腰直徑、近場發散角、光束質量因子M²。
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2024-12-28 - 02
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