致茂電感測試包裝機(jī)MODEL 1870D

致茂電感測試包裝機(jī)MODEL 1870D 系列產(chǎn)品簡介

Chroma 1870D系列(1870D/1870D-12)是一款為芯片型電感所設(shè)計(jì)的自動(dòng)化測試生產(chǎn)設(shè)備，包含芯片電感所需的各項(xiàng)測試功能，并具備制程終端的卷帶包裝自動(dòng)化機(jī)械，達(dá)到生產(chǎn)線的制造自動(dòng)化。

Chroma 1870D/1870D-12的標(biāo)準(zhǔn)測試功能包含電感值(Ls)/質(zhì)量因素(Q)量測、繞線電阻(RDC)量測、極性(Polarity)測試，并可選配層間短路測試(IWT)、絕緣電阻(IR)測試及重迭電流(BIASCurrent)測試，包含芯片電感的標(biāo)準(zhǔn)規(guī)格及質(zhì)量相關(guān)的測試項(xiàng)目。

為因應(yīng)現(xiàn)今電子產(chǎn)品， 微型電感被大量使用， 相對的電感需大量生產(chǎn)，C h roma

1870D/1870D-12最大生產(chǎn)效率為每分鐘1,200個(gè)， 可滿足龐大的需求數(shù)量。除測試外，1870D/1870D-12也具備自動(dòng)包裝機(jī)械，可將產(chǎn)品自動(dòng)封裝于包裝卷帶，以符合SMD生產(chǎn)所需樣式。

Chroma 1870D/1870D-12的供料模塊采用圓盤振動(dòng)送料，圓盤振動(dòng)送料可高速運(yùn)送薄型化產(chǎn)品。圓盤振動(dòng)送料透過軌道設(shè)計(jì)、光纖偵測及氣孔吹氣決定入料方向，相較于以往的直線往復(fù)式的機(jī)械送料，較快速也省空間。

傳統(tǒng)往復(fù)式機(jī)械或炮塔式機(jī)械架構(gòu)在測試移載時(shí)，是以吸嘴設(shè)計(jì)吸附產(chǎn)品進(jìn)行移載，往往在移載時(shí)受移動(dòng)慣性影響發(fā)生產(chǎn)品掉落，或因定位不準(zhǔn)確而無法測試。Chroma 1870D/1870D-12的測試區(qū)以導(dǎo)引盤架構(gòu)設(shè)計(jì)，整體為封閉式的架構(gòu)，在進(jìn)行高速移載時(shí)不會(huì)有產(chǎn)品遺漏的疑慮，相較于傳統(tǒng)機(jī)械架構(gòu)更快速及穩(wěn)定。

致茂電子專精于電子測試技術(shù)，對于自動(dòng)測試設(shè)備的測試治具也有專門的設(shè)計(jì)。Chroma 1870D/1870D-12測試站所使用的測試座為四線式量測設(shè)計(jì)，比一般自動(dòng)測試設(shè)備更精準(zhǔn)穩(wěn)定。測試座與產(chǎn)品的連接端采片式設(shè)計(jì)，相較于探針于使用上容易接觸且壽命長，于量測上片式設(shè)計(jì)也較探針穩(wěn)定且容易維護(hù)。

Chroma 1870D/1870D-12具備專用軟件，可于生產(chǎn)過程中實(shí)時(shí)監(jiān)控測試狀態(tài)，將每一個(gè)產(chǎn)品的測試數(shù)據(jù)搜集儲存。實(shí)時(shí)監(jiān)控功能利于生產(chǎn)單位于生產(chǎn)時(shí)降低生產(chǎn)風(fēng)險(xiǎn)，減少不必要的生產(chǎn)工時(shí)。數(shù)據(jù)搜集功能有利于研發(fā)及品保單位做產(chǎn)品分析或質(zhì)量控管，透過軟件協(xié)助提升生產(chǎn)質(zhì)量。

特點(diǎn)

■ 測試包裝速度

- 600ppm~1,200ppm (1870D)

- 80ppm~250ppm (1870D-12)

■ 標(biāo)準(zhǔn)功能：

- 電感/質(zhì)量因素測試

- 繞線電阻測試

- 極性測試

■ 選配功能：

- 層間短路測試

- 絕緣電阻測試

- 重迭電流測試

■ 圓振盤入料設(shè)計(jì)，穩(wěn)定快速供料

■ 導(dǎo)引盤設(shè)計(jì)，無掉料疑慮

■ 四線式量測設(shè)計(jì)的測試座

■ 穩(wěn)定高壽命專用測試片

■ 熱封模塊

■ 入料異常自動(dòng)排料機(jī)構(gòu)

■ 各測試站皆有獨(dú)立的不良品收集盒

■ 另提供測試不包裝功能，良品只被收集在散裝收集盒內(nèi)

■ 專用數(shù)據(jù)搜集軟件，可實(shí)時(shí)監(jiān)控生產(chǎn)質(zhì)量

■ 預(yù)留噴碼及光學(xué)檢測機(jī)構(gòu)位置