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天瑞OES 1000（火花）光電直讀光譜儀天瑞OES 1000（火花）光電直讀光譜儀特別適用于測(cè)定黃金產(chǎn)品中微量元素的含量，天瑞儀器火花光電直讀光譜儀的快速測(cè)試使研發(fā)、生產(chǎn)過(guò)程和質(zhì)量更可控，幫助客戶提升產(chǎn)品的技術(shù)和質(zhì)量水平，使相關(guān)流程加快，為用戶創(chuàng)造明顯的經(jīng)濟(jì)效益和環(huán)保效益。

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2024-11-27

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天瑞Gem UV-100寶玉石光譜檢測(cè)儀天瑞Gem UV-100寶玉石光譜檢測(cè)儀基于光譜測(cè)量原理，通過(guò)不同寶玉石材料在紫外-可見-近紅外波段的光譜吸收特征，對(duì)寶玉石種屬、成因、及優(yōu)化處理特征進(jìn)行快速、無(wú)損檢測(cè)。整機(jī)一體化設(shè)計(jì)，內(nèi)置高性能嵌入式主機(jī)及高清電容觸控屏；積分球和外置光纖探頭雙光路一鍵切，滿足不同場(chǎng)景、不同形狀及尺寸的樣品測(cè)試需求。

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2024-11-27

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天瑞EDX-V X射線熒光鍍層測(cè)厚儀天瑞EDX-V X射線熒光鍍層測(cè)厚儀采用多導(dǎo)毛細(xì)管X射線光學(xué)系統(tǒng),對(duì)于微米級(jí)尺寸電子零件、芯片針腳、晶圓微區(qū)等部件的鍍層厚度和成分分析,能進(jìn)行高效、準(zhǔn)確的測(cè)量。

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2024-11-27

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天瑞EDX-T X射線熒光鍍層測(cè)厚儀天瑞EDX-T X射線熒光鍍層測(cè)厚儀該款儀器配置嵌入集成式多準(zhǔn)直孔、濾光片自動(dòng)切換裝置和雙攝像頭,不僅能展現(xiàn)測(cè)試部位的細(xì)節(jié),也能呈現(xiàn)出高清廣角視野;自動(dòng)化的X/Y/Z軸的三維移動(dòng),實(shí)現(xiàn)對(duì)平面、凹凸、拐角、弧面等各種形態(tài)的樣品進(jìn)行快速對(duì)焦精準(zhǔn)分析。能更好地滿足半導(dǎo)體、芯片及PCB等行業(yè)的非接觸微區(qū)鍍層厚度測(cè)試需求。

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2024-11-27

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天瑞EDX4500H能量色散X熒光光譜儀天瑞EDX4500H能量色散X熒光光譜儀該儀器的主要特征是利用智能真空系統(tǒng)，可對(duì)Si、P、S、Al、Mg等輕元素具有良好的激發(fā)效果，利用XRF技術(shù)可對(duì)高含量的Cr、Ni、Mo等關(guān)注的元素進(jìn)行準(zhǔn)確分析，在冶煉過(guò)程控制中起到了測(cè)試時(shí)間短，大大提高了檢測(cè)效率和工作效率的作用。另外，在合金分析、全元素分析、有害元素檢測(cè)應(yīng)用上也十分廣泛。

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2024-11-27

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天瑞EDX3600能量色散X熒光光譜儀天瑞EDX3600能量色散X熒光光譜儀可準(zhǔn)確無(wú)誤地分析出黃金、鉑金、銀等飾品中金、銀、鉑、鈀、銠、銅、鐵、鎳、鋨、鋅、銥的含量,測(cè)試結(jié)果符合國(guó)標(biāo)GB-1887《首飾貴金屬純度的規(guī)定及命名方法》和GB/T-18043《貴金屬首飾含量的無(wú)損檢測(cè)方法X射線熒光光譜法》的要求。

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2024-11-27

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天瑞EDX3000PLUS X熒光貴金屬檢測(cè)儀天瑞EDX3000PLUS X熒光貴金屬檢測(cè)儀在測(cè)量金、銀、鉑、鈀等貴金屬含量上功能獨(dú)到。采用25mm2大面積探測(cè)器，可準(zhǔn)確無(wú)誤地分析出黃金，鉑金和K金飾品中金、銀、鉑、鈀、銅、鋅、鎳的含量，測(cè)試結(jié)果符合國(guó)標(biāo)GB/T 18043-2000要求。

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2024-11-27

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天瑞EDX600PLUS能量色散X熒光光譜儀天瑞EDX600PLUS能量色散X熒光光譜儀是一款下照式結(jié)構(gòu)的鍍層測(cè)厚儀。測(cè)量方便快捷，無(wú)需液氮，無(wú)需樣品前處理。對(duì)工業(yè)電鍍、化鍍、熱鍍等各種鍍層的成分厚度以及電鍍液金屬離子濃度進(jìn)行精準(zhǔn)檢測(cè),幫助企業(yè)準(zhǔn)確核算成本及質(zhì)量管控。可廣泛應(yīng)用于光伏行業(yè)、五金衛(wèi)浴、電子電器、航空航天、磁性材料、汽車行業(yè)、通訊行業(yè)等領(lǐng)域。

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2024-11-27

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